테스트용 소켓의 격자 배열(TEST SOCKET LATTICE)
테스트용 소켓의 격자 배열(TEST SOCKET LATTICE)
페이지 정보
작성자 관리자 작성일 조회433회관련링크
본문
특허 출원일자 : 1999.11.30
특허 등록일자 : 2006.05.11
특허 등록번호 : 10-0581237-0000
전기 리드선(lead)선을 갖는 집적 회로 패키지의 번-인 테스트(burn-in test)를 위한 소켓이 제공된다. 이 소켓은 내부의 일반적으로 직사각형인 단자-수용 공동부로 이루어진 열과 행의 배열을 가지는데, 일반적으로 직사각형인 단자-수용 공동부 각각은 더 긴 치수에 해당되는 길이 방향, 및 집적 회로 패키지의 리드선과 접촉하기 위한 단자-수용 공동부에 배치된 다수의 단자를 구비한다. 이 배열의 각 열과 행은 첫 번째와 마지막 공동부를 제외한 순서(sequence)의 각 공동부에 대해서 세 개 이상의 인접한 공동부의 순서를 포함하되, 공동부의 길이 방향은 실질적으로 인접한 양 측면상의 공동부 순서 속의 두 개의 공동부의 길이 방향에 수직이다
고문변리사 문경진 |
정진국제특허법률사무소 상담문의 02-6677-7612 |